Name: | Profilometro 3D interferometrico e confocale - (Leica DCM 3D) | Category: | Morphological, compositional and structural characterization | |  | Our setup: | Confocale, interferometria (PSI, ePSI, VSI), Campo chiaro a colori reali, campo chiaro in scala di grigi (alta risoluzione), campo scuro.
Obiettivi da 10× fino a 150× in confocale e 50× in interferometria
torretta portaobiettivi a 6 posizioni automatico
Corsa del tavolino (x,y) Funzione di stitching Motorizzato: da 114×75 mm
Illuminazione: LED bianco ad alta potenza 530 nm per luce coassiale, controllabile LED blu ad alta potenza 460 nm per luce coassiale, controllabile
Intervallo di scansione verticale 40 mm
| General
Description: | Micro optical measurement technology fulfils two important requirements of metrology: non-destructive measurement combined with high accuracy. The measuring capabilities of the Leica DCM 3D range from a few nanometers to several millimeters and therefore serving a wide variety of different applications. Besides the capabilities of adapting to the requirements of the application from super smooth to very rough surfaces, the Leica DCM 3D is specifically designed to carry out measurements at extremely high speed. This does not only save valuable time, but also significantly improves the return of investment. The integrated technologies of the Leica DCM 3D overcome the physical limits of conventional Profiling systems. With a single system it is possible to analyze rough (confocal) as well as smooth (Vertical Scanning Interferometry or VSI) and super smooth (Phase Shift Interferometry or PSI) surfaces. Sub-micron lateral resolution and a vertical resolution in the nm range is obtained in confocal mode, while large fields of view in combination with sub-nanometer Z resolution are acquired in the Interferometry mode.
3 Systems in one: Brightfield and darkfield color digital microscope;
High Resolution Confocal imaging and measuring system;
Dual Optical Interferometric Profiler | Features: | Dual Core Optical Imaging Profilometry (Confocal and Interferometry) non-contact, 3 dimensional
Confocal, Interferometry (PSI, ePSI, VSI), Brightfield Color, Brightfield Greyscale (high resolution), Darkfield.
Objectives from 10× up to 150× in confocal, 50× in interferometry
6-fold objective revolver automatic
Stage travel range (x,y) stitching available Motorized: From 114 × 75 mm
Illumination: High power white LED 530 nm for coaxial light, controllable
Vertical Scanning Range 40 mm High power blue LED 460 nm for coaxial light, controllable | Standards and procedures:
| UNI EN ISO 4288
UNI ISO 25178 | Installation year: | 2011 |
|
|
|
Where this equipment is useful
Useful for | Category of application | Main fields of application | Other fields of application | Keywords |
---|
Failure Analysis | Industria e tecnologia industriale | Settore della meccanica, settore dei trasporti | N.A. | Metallografia, microfrattografia, prove meccaniche | Attivazione e pulizia delle superfici mediante Flame Treatment | Industria e tecnologia industriale, ricerca applicata | settore automotive, aerospaziale, edilizio, sportivo | Coatings su polimeri, materiali compositi | Attivazione superficiale, pulizia, incremento di adesione e bagnabilità ed energia superficiale | Analisi della bagnabilità, dell’energia superficiale, delle proprietà antisporcamento, di contaminazione batterica di superfici e adesione di rivestimenti. | Industria e tecnologia industriale, ricerca applicata, biologia e medicina | settore tessile, packaging, biomedicale, energia, meccanica | Rivestimenti, vernici, binder e ovunque siano presenti materiali compositi e polimeri rivestiti o qualsiasi materiale ibrido | Idrofilia/idrofobia, energia superficiale, adesione, carico critico | Metodi innovativi per lo studio tribologico di superfici nano e micro strutturate | Ingegneria meccanica e della produzione, nanotecnologia e nano scienza | Industria dell’auto, industria dell’energia, industria dei trasporti, industria meccanica, settore Hi-Tech del biomedicale | Industria del confezionamento, industria dell’arredamento, industria del settore moda | Usura, attrito, abrasione, adesione, tribologia, danneggiamento superficiale, coatings | Metrologia e Controllo | Ingegneria meccanica e della produzione, nanotecnologia e nanoscienza, sensoristica, biotecnologie | Industria dell’auto, industria dell’energia, industria dei trasporti, industria meccanica, settore Hi-Tech del biomedicale; Microelettronica (MEMS-NEMS), rivestimenti sottili per applicazioni meccaniche avanzate e funzionali, settore biomedicale | Failure analysis, ingegneria forense, tutela brevettuale | metrologia, controllo di qualità, precisione di lavorazione, disegno e sviluppo di nanodispositivi | Rivestimenti superficiali a film sottile mediante tecniche di deposizione PVD | Tecnologia dei materiali, energetica e fonti energetiche non rinnovabili, nanotecnologia e nano scienza, biotecnologia industriale | Rivestimenti funzionali nel settore energetico (fotovoltaico, solare termico, cella a combustibile e rivestimenti catalitici); Rivestimenti biocompatibili per applicazioni biomediche (innesti ortopedici e odontoiatrici) | Rivestimenti antiusura per applicazioni meccaniche; Rivestimenti decorativi (gioielleria, alta moda, automotive). | Rivestimenti superficiali, PVD |
|
|
Services
Category | Aim | Method | Description | Standards |
---|
Analisi morfologico-compositiva | Misura di spessore | interferometria ottica e confocale | Determinazione dello spessore di un rivestimento mediante l'acquisizione di 5 profili in differenti zone | UNI EN 1071-1 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione di una singola area di scansione (FoV funzione dell'ottica impiegata) su campioni a geometria complessa a bassa riflettanza | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione di una singola area di scansione (FoV funzione dell'ottica impiegata) su campioni a geometria piana a bassa riflettanza | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione di una singola area di scansione (FoV funzione dell'ottica impiegata) su campioni a geometria complessa ad alta riflettanza | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione di una singola area di scansione (FoV funzione dell'ottica impiegata) su campioni a geometria piana ad alta riflettanza | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione multipla di aree di scansione (stiching) (<= 10 scansioni) | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione multipla di aree di scansione (stiching) (> 10 scansioni) | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Acquisizione multipla di livelli di scansioni (stiching z) | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | interferometria ottica e confocale | Analisi dei dati standard (livellamento superfici, rugosità secondo normativa, visualizzazione 3D) | UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178 |
1
- 10  |
|
|