Name:FEI CM 120 EDS Edax DX-4 - (TEM)
Category:Morphological, compositional and structural characterization
 
Our setup:
Microscopio elettronica a trasmissione (120kV) analitico con filamento in LaB6, portacampioni a 5 assi motorizzato. Risoluzione lineare 0.2nm.
Range di elementi rilevabili a partire dal boro, risoluzione MnKa 134eV, Acquisizione digitale di profili di linea e di mappe rX. Software per analisi quantitativa-semiquantitativa tramite modelli ZAF e PhiRhoZ
Telecamera TEM:
Effective pixels [pixel] 1392 x 1040
Digitization [bit] 12
Frame rate [fps] at full resolution > 10
Binning 2x, 4x and 8x
PC interface FireWire (IEEE 1394)
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TEM CCD Camera Olympus MegaView III
Effective pixels [pixel] 1392 x 1040
Digitization [bit] 12
Frame rate [fps] at full resolution > 10
Binning 2x, 4x and 8x
PC interface FireWire (IEEE 1394)
Acquisizione digitale dell'immagine visibile sullo schermo a fosfori evitando il vecchio metodo di salvataggio delle immagini tramite lo sviluppo di lastre fotografiche.Acuisizione di immagini TEM in campo chiaro, campo scuro e in diffrazione elettronica tramite la gestione del software ITEM della SIS che consente immadiatamente di effettuare metrologia. Le immagini infatti vengono direttamente acuisite calibrate all'ingrandimento visibile nel microscopio.L'elevata sensibilità del CCD consente di ottenere un ottimo contrasto su particolari nanometrici tipo i difetti reticolari e le inclusioni.
Ubicazione: LIME
Assegnatario: Bemporad
Origine dei fondi: Fonti Carassiti INSTM Promo
Year 2007
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General Description: FEI CM 120 EDS Edax  DX-4
120kV, analytical with LaB6 filament, sample holder with 5 axes motorized. Linear resolution of 0.2nm.
EDS probe with range of detectable elements since borum, resolution MnKa 134eV, digital acquisition of rX compositional profile and maps.
Software for quantitative-semiquantitative analysis using ZAF and PhiRhoZ models.
TEM CCD:
Effective pixels [pixel] 1392 x 1040
Digitization [bit] 12
Frame rate [fps] at full resolution > 10
Binning 2x, 4x and 8x
PC interface FireWire (IEEE 1394)
Features:FEI CM 120 EDS Edax  DX-4
Sample holder with double tilt for SAD analysis
Nanoprobe for nano EDS analysis
Standards and procedures:  
 
 

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Installation year:1996

Where this equipment is useful

Useful forCategory of
application		Main fields of
application		Other fields of
application		Keywords
Services with FIBall high tech industriesstructure/property relationships in materials ion/electron-solid interactions materials science research grant/proposal writing and review nanotechnology product authentication product marketing litigation support
2D and 3D Analytical Services (FIB/SEM/TEM)
SEM/TEM specimen preparation
materials characterization
FIB prototyping
failure analysis
crystallography
phase ID
interdiffusion
interfaces
thin films
grain size
porosity
Failure Analysis Industria e tecnologia industrialeSettore della meccanica, settore dei trasportiN.A.Metallografia, microfrattografia, prove meccaniche

Services

CategoryAimMethodDescriptionStandards
Analisi morfologico-compositivaanalisi elementaleEDS in nanoprobeEsecuzione di una analisi qualitativa in max 3 punti: individuazione degli elementi presenti, registrazione su file dei dati e dello spettro:  ASTM E1508-98
Analisi morfologico-compositivaanalisi elementaleEDS in nanoprobeEsecuzione di una analisi qualitativa su una linea discreta di punti (max 10) con l’individuazione semiquantitativa dei profili di concentrazione , registrazione su file dei dati e dell’immagine:  ASTM E1508-98
Analisi morfologico-compositivaosservazione mediante elettroniin trasmissioneOsservazione con acquisizione digitale di 3 campi di interesse fino a max ingrandimento 175.000X e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8, 256 livelli di grigio: 
Analisi morfologico-compositivaosservazione mediante elettroniin trasmissioneOsservazione con acquisizione digitale di 3 campi di interesse fino al massimo ingrandimento significativo (max 660.000X) e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8, 256 livelli di grigio:  
analisi strutturalecristallografiadiffrazione elettronicaIndividuazione puntuale cristallografica e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024  
analisi strutturalecristallografiadiffrazione elettronicaIndividuazione puntuale cristallografica di almeno due assi di zona con individuazione e misura dei parametri di cella e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 
Preparativaassottigliamentoelectron probeVerifica della qualità della lamella (omogeneità e spessore) tramite osservazione in trasparenza elettronica TEM o STEM ASTM E3
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