| Name: | AFM NT-MDT SMENA - (AFM) | | Category: | Morphological, compositional and structural characterization | |  | | Our setup: | Microscopio a forza atomica
Modalità di acquisizione immagini: contact mode, semi-contact mode, lateral force, phase analysis, conductive AFM, magnetic force microscopy.
Nanopatterning superficiale: ossidazione selettiva e nanoscratching.
Area di scansione max.: 100x100 µm2
Software di analisi dati ed elaborazione immagini off-line NT-MDT Nova. | | General
Description: | Atomic Force Microscope (NT-MDT, contact, semi-contact, lateral force and other modes of measure), scanning area 100x100 µm2).
Atomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very high-resolution type of scanning probe microscopy, with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit.
The AFM consists of a cantilever with a sharp tip (probe) at its end that is used to scan the specimen surface. The cantilever is typically silicon or silicon nitride with a tip radius of curvature on the order of nanometers. When the tip is brought into proximity of a sample surface, forces between the tip and the sample lead to a deflection of the cantilever according to Hooke's law. Depending on the situation, forces that are measured in AFM include mechanical contact force, van der Waals forces, capillary forces, chemical bonding, electrostatic forces, magnetic forces | | Features: | Atomic Force Microscope
Imaging: contact mode, semi-contact mode, lateral force, phase analysis, conductive AFM, magnetic force microscopy.
Surface Nanopatterning: selective oxidation and nanoscratching.
Max. scanning area: 100x100 µm2
Software for data and off-line images analisys: NT-MDT Nova | | Standards and procedures:
| Norme ISO 4287 per la definizione dei parametri superficiali e per il calcolo dei parametri di rugosità | | Installation year: | 2003 |
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Where this equipment is useful
| Useful for | Category of
application | Main fields of
application | Other fields of
application | Keywords |
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| Analisi della bagnabilità, dell’energia superficiale, delle proprietà antisporcamento, di contaminazione batterica di superfici e adesione di rivestimenti. | Industria e tecnologia industriale, ricerca applicata, biologia e medicina | settore tessile, packaging, biomedicale, energia, meccanica | Rivestimenti, vernici, binder e ovunque siano presenti materiali compositi e polimeri rivestiti o qualsiasi materiale ibrido | Idrofilia/idrofobia, energia superficiale, adesione, carico critico | | Metrologia e Controllo | Ingegneria meccanica e della produzione, nanotecnologia e nanoscienza, sensoristica, biotecnologie | Industria dell’auto, industria dell’energia, industria dei trasporti, industria meccanica, settore Hi-Tech del biomedicale; Microelettronica (MEMS-NEMS), rivestimenti sottili per applicazioni meccaniche avanzate e funzionali, settore biomedicale | Failure analysis, ingegneria forense, tutela brevettuale | metrologia, controllo di qualità, precisione di lavorazione, disegno e sviluppo di nanodispositivi |
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Services
| Category | Aim | Method | Description | Standards |
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| Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Elaborazione report con foto 2D e 3D, con estrapolazione di massimo 5 profili | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure non calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 5x5µm e Z max di 0.5µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure non calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 10x10µm e Z max di 1µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure non calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 100x100µm e Z max di 5µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 5x5µm e Z max di 0.5µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 10x10µm e Z max di 1µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) su area minore di 100x100µm e Z max di 5µm | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate (con griglia di calibrazione) contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) per misura di rugosità (Ra) su almeno 3 immagini | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate (con griglia di calibrazione) contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) per ricostruzione tridimensionale di impronte MHV e MHK | | | Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | microscopia a forza atomica | Misure calibrate (con griglia di calibrazione) contact o tapping mode (morphology, lateral force, phase, magnetic, ecc.) per ricostruzione tessiture | |
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