Name:Strumenti linea preparativa TEM - (Preparativa TEM)
Category:ICT, sample preparation and workshop
 
General description
TEM sample preparation is a line of instruments for cut and polish a sample to reduce his thickness up to electron transparency (about 100nm). The sample is preliminarly cut to a disk shape using an ultrasonic driller and then thinned using a sequence of diamond papers. The final step is prformed using an electropolisher or ion milling.
 
A cosa serve:
La linea di preparativa TEM è destinata alla preparazione di campioni per l'osservazione al microscopio elettronico in trasmissione. A tale scopo il provino deve essere tagliato a forma di dischetto da 3mm di diametro e portato ad uno spessore di circa un centinaio di nanometri in modo tale da essere attraversato dal fascio elettronico del microscopio. La difficoltà di tale preparativa sta nel fatto che il campione è difficile da maneggiare.
 

Come funziona:
 La prima fase consiste nel tagliare il campione a forma di dischetto trasmite un trapano ad ultra suoni con punta cilindrica cava da 3mm. Successivamente il campione viene assottigliato meccanicamente con panni diamantati fino ad uno spessore finale di circa 50micron. Dopo tale fase il dischetto viene assottigliato solo nella parte centrale (assottigliamento a conca) tramite il dimple grinder lasciando inalterati i botdi che consentono di mantenere una certa rigidità del campione e quindi la possibilità di maneggiarlo. La fase finale di assottigliamento fino alla trasparenza elettronica viene realizzata o tramite elettropolisher ossia tramite un bagno eletrtolitico localizzato al centro del campione tramite un getto a pressione oppure per milling ionico. Negli ultimi anni, con l'acquisto del FIB (vedi argomento a riguardo), la preparativa del campione per l'analisi TEM viene fatta direttamente con il microscopio a fascio ionico evitando di impiegare tutta la strumentazione ora descritta.
 

Per cosa si usa:
​Preparazione di campioni per l'analisi al microscopio elettronico a trasmissione ove è richiesto un ospessore massimo di un centinaio di nanomentri affinchè il campione possa essere attraversato dal fascio elettronico.  Esiste la linea di preparativa classica di tipo meccanico- ionico e quella più di nicchia tramite il FIB.
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