Name:FEI CM 120 EDS Edax DX-4 - (TEM)
Category:Morphological, compositional and structural characterization
 
General descriptionFEI CM 120 EDS Edax  DX-4
120kV, analytical with LaB6 filament, sample holder with 5 axes motorized. Linear resolution of 0.2nm.
EDS probe with range of detectable elements since borum, resolution MnKa 134eV, digital acquisition of rX compositional profile and maps.
Software for quantitative-semiquantitative analysis using ZAF and PhiRhoZ models.
TEM CCD:
Effective pixels [pixel] 1392 x 1040
Digitization [bit] 12
Frame rate [fps] at full resolution > 10
Binning 2x, 4x and 8x
PC interface FireWire (IEEE 1394)
 
A cosa serve:
 IL TEM produce immagini ad alta risoluzione acuisite nel nostro caso da una CCD ad altissima sensibilità di nanostrutture (porosità, dislocazioni, geminazioni, ecc).
Con la diffrazione elettronica si ottengono immagini che rappresentano la struttura cristallografica che permettono il riconoscimento del reticolo di Bravais e la misura dei parametri reticolari.
Con la sonda EDS si possono ottenere spettri semi-quantitativi per l'analisi compositiva su porzioni del campione nanometriche.
 

Come funziona:

In un TEM, gli elettroni che costituiscono il fascio, attraversano una sezione dove è stato creato precedentemente il vuoto, per poi passare completamente attraverso il campione. Questo, dunque, deve avere uno spessore estremamente ridotto, compreso tra 50 e 500 nm. Il potere di risoluzione (la minima distanza fra due punti per la quale si possono distinguere come tali e non come uno solo) è di circa 0,2 nm, cioè circa 500.000 volte maggiore di quello dell'occhio umano. Questo tipo di microscopio è fornito,lungo l'asse elettro ottico, di complessi sistemi che utilizzando la modificazione di campi elettrici e magnetici, sono in grado di pilotare gli elettroni attraverso "lenti" magnetiche necessarie ad allargare considerevolmente il fascio di elettroni già passati attraverso il campione per far sì che l'immagine risulti ingrandita. Il campione consiste in sezioni, come si è detto, molto sottili, appoggiate su di un piccolo dischetto in rame o nichel (del diametro di pochi millimetri) fenestrato di solito a rete ("retino") in modo che la sezione possa essere osservata tra le sue maglie senza interposizione di vetro (come avviene nel microscopio ottico) che non sarebbe attraversato dagli elettroni. Questi ultimi infatti non possono attraversare materiali spessi.

Il fascio di elettroni colpisce uno schermo fluorescente (sensibile agli stessi) proiettando su di esso un'immagine reale e fortemente ingrandita della porzione di campione precedentemente attraversata. Questo microscopio fornisce le immagini in bianco e nero, però molte volte si trovano immagini ottenute dallo stesso che sono state successivamente elaborate digitalmente migliorando l'immagine.

Per cosa si usa:
Nel campo della scienza dei materiali il TEM, abbinato alla preparativa della lamella tramite il FIB, di analizzare la nano e micro-struttura di materiali metallici, ceramici sia massivi che di rivestimenti funzionali (analisi dei precipitati, nanoporosità, piani di geminazione, dislocazioni, ecc). L'impiego della tecnica della diffrazione elettronica consente inoltre il riconoscimento della cristallografia del materiale e quindi il riconoiscimento della fase.
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